Ich liebe mein Handy – wenn es funktioniert
Wissenschaftler der Uni Bremen ist Weltbester: McCluskey Best 2010 Doctoral Thesis Award für Informatiker Stephan Eggersglüß
Stephan Eggersglüß von der Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur unter der Leitung von Professor Rolf Drechsler wurde für seine Dissertation zur Steigerung der Qualität des Testens als Arbeit mit dem stärksten Einfluss auf den Produktionstest international ausgezeichnet.
In zunehmendem Maße sind wir heute von Elektronik umgeben. MP3-Player und Handys sind unsere täglichen Begleiter geworden und sind aus dem Alltag kaum noch wegzudenken. Und natürlich erwarten wir, dass diese Komponenten immer richtig funktionieren. Dies sollte bei Neugeräten eine Selbstverständlichkeit sein. Doch auch wenn die Geräte lange in Betrieb sind und harten Belastungen ausgesetzt werden, müssen sie noch korrekt arbeiten. In vielen Bereichen unserer Umwelt vertrauen wir sogar unser Leben diesen Systemen an – oftmals ohne es zu wissen. Wenn wir ein Flugzeug besteigen oder die Bremse eines modernen Autos betätigen: ohne Elektronik ist das nicht mehr denkbar. Daher werden sehr große Anforderungen an den Test solcher Apparaturen gestellt. Doch heutige Computerchips bestehen oft aus mehreren Milliarden Komponenten, die auf nur wenigen Quadratzentimetern Platz finden. Einen Fehler zu finden lässt sich damit vergleichen den Kopf einer Stecknadel im Weserstadion mit einem Fernglas zu suchen. Daher werden heutzutage bereits über 50% der Herstellungskosten von Computerchips für deren Test ausgegeben.
Eggersglüß hat neue Verfahren entwickelt, die es erlauben die Qualität von Produktionstests zu erhöhen. Für Schaltungen aus der Industrie gelang es ihm zum Beispiel die Anzahl der geprüften Komponenten von 99,5 % auf 99,8 % zu steigern. Was zunächst vernachlässigbar scheint, offenbart sich bei genauerer Betrachtung. Wenn ein Schaltkreis 1 Milliarde Komponenten besitzt, so entsprechen 0,3% drei Millionen Elemente, die ansonsten ungeprüft geblieben wären. Nur durch hochqualitative Testverfahren lassen sich zuverlässige Produkte entwickeln. Es gelang ihm mit wissenschaftlich sehr anspruchsvollen Methoden praktisch relevante Probleme in Kooperation mit dem Industriepartner Philips/NXP zu lösen. Die Leistung ist besonders hoch zu bewerten, da die Generierung von guten Testmustern ein sehr intensiv untersuchtes Gebiet ist. Umso überraschender ist es, dass es Eggersglüß gelang die existierenden Methoden deutlich zu verbessern.
Auf der Tagung International Test Conference (ITC) – der weltweit führenden Fachtagung mit über 2000 Besuchern – wurde seine Arbeit als die beste für das Jahr 2010 ausgezeichnet. Nachdem er sich im Mai dieses Jahres als bester Europäer durchsetzen konnte, gelang ihm dieses nun auch als erster Deutscher in der Endausscheidung weltweit. Dazu wurde die Arbeit von zwei Jurys unabhängig bewertet. Eine aus führenden Professoren des Forschungsgebietes besetzte Gruppe bewertete die Arbeit im Bezug auf den wissenschaftlichen Gehalt. Im Anschluss mussten die Finalisten vor einer Expertenkommission von Vertretern aus der Industrie ihre Arbeit vorstellen und Fragen zur praktischen Bedeutung beantworten. Der Expertenkommission gehörten unter anderem Vertreter der Firmen Intel, Freescale/Motorola und ARM an. In Anerkennung seiner besonderen Leistung wurde Stephan Eggersglüß der E. J. McCluskey Best 2010 Doctoral Thesis Award des Test Technology Technical Council (TTTC) der IEEE Computer Society verliehen. Die Doktorarbeit wurde von Prof. Dr. Rolf Drechsler betreut und im Oktober 2010 mit dem Prädikat „summa cum laude“ abgeschlossen.
TTTC ist eine Organisation innerhalb der IEEE Computer Society, welche sich mit dem Testen von Elektronik befasst. Das Ziel des TTTC ist sowohl die Weiterentwicklung von Techniken im diesem Gebiet als auch die professionelle Förderung der Mitglieder selbst. Das TTTC ist Sponsor von zahlreichen Kongressen in diesem Fachgebiet. Einer der wichtigsten darunter ist die International Test Conference (ITC), welche seit 1970 besteht.
Edward J. McCluskey ist emeritierter Professor der Universität Stanford und einer der Pioniere auf dem Gebiet der Entwurfsautomatisierung. Darüber hinaus hat er sich in seiner langjährigen Arbeit intensiv für die Förderung des wissenschaftlichen Nachwuchses eingesetzt.
E. J. McCluskey Best Doctoral Thesis Award wird jährlich vom TTTC für diejenige Doktorarbeit vergeben, welche den größten Einfluss auf den Produktionstest elektronischer Schaltungen hat. Im Jahr 2010 wurde er zu Ehren von E. J. McCluskey umbenannt. Seit 2010 wird der Preis in einem zweistufigen Verfahren vergeben. Die Sieger der Halbfinale der einzelnen Kontinente treten im Finale auf der International Test Conference (ITC) gegeneinander an.
Mehr Informationen unter
http://www.tttc-events.org.
