Von der Waschmaschine bis zum Weltraum-Modul: Testen von Computerchips
Universität Bremen organisiert vom 15. bis 17. Februar 2009 deutschlandweit bedeutenden Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen
„Error“, „Gerät defekt“ oder „unbekannter Ausnahmefehler“ – wie sehr Computer heutzutage unseren Alltag beeinflussen, erkennt man oft erst, wenn sie nicht richtig funktionieren. Dabei sind Defekte in Chips keine Seltenheit. In heutigen Schaltkreisen werden Milliarden von Komponenten auf wenigen Quadratzentimetern verbaut. Während der Produktion können dabei bereits winzige Staubpartikel großen Schaden anrichten. Deshalb müssen Computerchips zuverlässig produziert und intensiv getestet werden.
Wie dies effizient geschehen kann, ist unter anderem Thema des 21. Workshops für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen, den die Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur des Fachbereichs Mathematik und Informatik an der Universität Bremen von Sonntag, 15., bis Dienstag, 17. Februar 2009, im Haus der Wissenschaft in Bremen organisiert.
Bei der Veranstaltung, die als das bedeutendste deutschsprachige Forum auf diesem Fachgebiet gilt, tauschen sich Experten aus Wissenschaft und Industrie über die neusten Trends, Ergebnisse und Probleme aus. Dabei diskutieren die Teilnehmer im Rahmen eines Vortrags insbesondere auch darüber, wie man die Korrektheit von Systemen im Weltraumeinsatz sicherstellen kann. Denn während man Defekte durch Computerchips bei Alltagsgegenständen, wie etwa einer Waschmaschine, relativ schnell durch einen Techniker beheben lassen kann, gestaltet sich die Problemlösung von defekten Schaltungen im Weltraum wesentlich schwieriger. Zudem erhöhen zusätzliche Störungsquellen wie zum Beispiel Strahlung die Gefahr eines Defekts. Satelliten oder auch Module von Raumstationen können so schnell zu Weltraumschrott im Wert von mehreren Millionen Euro werden.
