HOME | KONTAKT

Logo Universität Bremen
LOGO AGRA | AG Rechnerarchitektur



Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur / AGRA | Informatik | FB03 | Universität Bremen

Buch Detail


Test digitaler Schaltkreise

Autor: Stephan Eggersglüß, Görschwin Fey, Ilia Polian
Verlag: Oldenbourg
Format: Softcover
Erscheinungsjahr: 2014

Eingebettete Systeme übernehmen zentrale Steueraufgaben im täglichen Leben. In der Energieversorgung oder im Transportwesen würde ein Ausfall der Systeme fatale Auswirkungen haben. Der Nutzer verlässt sich aber auf ein fehlerfreies Funktionieren des Systems. Die Funktionstüchtigkeit der Schaltkreise zu garantieren, ist das Ziel des Testens – und das mit geringen Kosten, da jeder Chip nach der Produktion separat getestet werden muss.



©2023 | AG Rechnerarchitektur | Kontakt | Impressum & Datenschutz