Test von Schaltungen und Systemen
H | 03-MB-701.08
In der Vorlesung wird eine Einführung in grundlegende Fragen, Methoden und Techniken des Hardware-Tests gegeben.
Inhalte sind:
1.
Physikalische Fehlerursachen
2.
Abstraktion von der physikalischen Ebene, Fehlermodelle
3.
Algorithmen zur Berechnung von Signalwahrscheinlichkeiten
4.
Techniken zur Manipulation Boolescher Funktionen
5.
Algorithmen zur Fehlersimulation
6.
Algorithmen zur Testmustergenerierung
7.
Nutzung strukturellen Wissens zur Effizienzsteigerung
8.
Techniken zur Reduktion des Suchraumes, Fehleräquivalenz und -dominanz
Ziele:
1.Verständnis des Testproblems
2.
Vermittlung des Testverlaufs für Schaltungen und Systeme
3.
Kenntnis der klassischen und modernen Verfahren im Testbereich
4.
Kenntnis von Algorithmen auf (Schaltkreis-)Graphen
5.
Wissen über die Komplexität der Verfahren
Veranstalter:
Dr. Stephan Eggersglüß, Sebastian Huhn
Ort & Zeit:
V 2 SWS Do von 10:00 - 12:00 MZH 1460
Ü 2 SWS Mi von 10:00 - 12:00 MZH 1470
