NANOTEST

Das Projekt befasst sich mit der Entwicklung von neuen Methoden zur Testgenerierung für digitale Schaltungen in geringer Nanometer-Fertigung.

Kontakt: Rolf Drechsler, Stephan Eggersglüß

Das Projekt befasst sich mit der Entwicklung von neuen Methoden zur Testgenerierung für digitale Schaltungen.

Insbesondere für aktuelle Chips, welche in kleinen Nanometer Strukturen gefertigt werden, gibt es viele Herausforderungen zu meistern. Um diese Herausforderungen zu meistern, soll eine kosteneffektive und robuste Testumgebung basierend auf formalen Methoden entwickelt werden.

Laufzeit: Okt. 2013 – Sept. 2017

Gefördert im Rahmen der Exzellenzinitiative des Bundes und der Länder im Programm der Universität Bremen - M8 – PostDoc-Initiative.