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Arbeitsgruppe Rechnerarchitektur / AGRA | Informatik | FB03 | Universität Bremen

Dr. Hongyan Zhang


Den Schwerpunkt meiner Forschung bildet der „Test reversibeler Schaltungen“. Insbesondere beschäftige ich mich mit Fehlermodellen und ATPG reversibler Schaltungen.

WiMi

Fault Ordering for Automatic Test Pattern Generation of Reversible Circuits
Autor: Robert Wille, Hongyan Zhang, Rolf Drechsler
Konferenz: 43rd International Symposium on Multiple-Valued Logic (ISMVL)
Pdf | Referenz: pp. 29-34, Toyama, 2013

Improved Fault Diagnosis for Reversible Circuits
Autor: Hongyan Zhang, Robert Wille, Rolf Drechsler
Konferenz: Asian Test Symposium (ATS)
Pdf | Referenz: New Delhi, 2011

Determining Minimal Testsets for Reversible Circuits Using Boolean Satisfiability
Autor: Hongyan Zhang, Stefan Frehse, Robert Wille, Rolf Drechsler
Konferenz: 10th IEEE Africon
Pdf | Referenz: Livingstone, 2011

ATPG for Reversible Circuits Using Simulation, Boolean Satisfiability, and Pseudo Boolean Optimization
Autor: Robert Wille, Hongyan Zhang, Rolf Drechsler
Konferenz: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI)
Pdf | Referenz: pp. 120-125, Chennai, 2011

SAT-based ATPG for Reversible Circuits
Autor: Hongyan Zhang, Robert Wille, Rolf Drechsler
Workshop: 5th International Design & Test Workshop (IDT)
Referenz: pp. 149-154, Abu Dhabi, 2010

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