Den Schwerpunkt meiner Forschung bildet der „Test reversibeler Schaltungen“. Insbesondere beschäftige ich mich mit Fehlermodellen und ATPG reversibler Schaltungen.
Improved Fault Diagnosis for Reversible Circuits
Autor: Hongyan Zhang, Robert Wille, Rolf Drechsler
Konferenz: Asian Test Symposium (ATS) Pdf | Referenz: New Delhi, 2011
Determining Minimal Testsets for Reversible Circuits Using Boolean Satisfiability
Autor: Hongyan Zhang, Stefan Frehse, Robert Wille, Rolf Drechsler
Konferenz: 10th IEEE Africon Pdf | Referenz: Livingstone, 2011
ATPG for Reversible Circuits Using Simulation,
Boolean Satisfiability, and Pseudo Boolean
Optimization
Autor: Robert Wille, Hongyan Zhang, Rolf Drechsler
Konferenz: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI) Pdf | Referenz: pp. 120-125, Chennai, 2011
SAT-based ATPG for Reversible Circuits
Autor: Hongyan Zhang, Robert Wille, Rolf Drechsler
Workshop: 5th International Design & Test Workshop (IDT)
Referenz: pp. 149-154, Abu Dhabi, 2010
