Mein Forschungsgebiet ist Low Power Design For Test (DFT) für integrierte Schaltungen. Die Identifikation von riskanten und anfälligen Testmustern ist ein wichtiger Bestandteil eines zuverlässigen Produktionstests. Daher konzentriert sich meine Arbeit auf die Entwicklung einer Methodik zur Testmusteranalyse in diesem Gebiet.