Der Fokus meiner Tätigkeit liegt auf der Entwicklung von Algorithmen zur Erzeugung hochwertiger Testmengen für digitale Schaltkreise. Ein wichtiger Aspekt ist hierbei die Integration und die gezielte Verwendung von strukturellen Informationen des untersuchten Schaltkreises in formalen Beweistechniken, die im Rahmen der Testgenerierung Anwendung finden.
Design für Testbarkeit, Fehlersuche und Zuverlässigkeit
Advanced Boolean Techniques
Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques
Start Small But Dream Big: On Choosing a Static Variable Order for Multiplier BDDs
SAT-Based Key Determination Attack for Improving the Quality Assessment of Logic Locking Mechanisms
Toward System-Level Assertions for Heterogeneous Systems
Programmieren mit Arduinos
A Novel Default Risk Prediction and Feature Importance
Analysis Technique for Marketplace Lending using
Machine Learning
Power-aware Test Scheduling Framework for IEEE 1687 Multi-Power Domain Networks using Formal Techniques
Determining Application-specific Knowledge for Improving Robustness of Sequential Circuits
Arduinos in der Schule -
Lernen mit Mikrocontrollern